Stanowisko do bezdotykowego wykrywania defektów struktury badanego przedmiotu, wygarbowanych skór naturalnych

OPIS

Przedmiotem wynalazku jest stanowisko do bezdotykowego wykrywania defektów struktury badanego przedmiotu, zwłaszcza wygarbowanych skór naturalnych mające zastosowanie w liniach produkcyjnych branży meblarskiej i odzieżowej. Stanowisko posiada nieruchome źródło ciepła, które stanowi stół roboczy (1) z jednolicie podgrzewaną powierzchnią od strony badanego przedmiotu, a nad stołem roboczym (1) zamocowana jest suwliwie rama jezdna 48 (4), która od strony wyładowczej badanego przedmiotu wyposażona jest w wałek dociskowy (7) badanego przedmiotu przed którym zamocowana jest płyta podawcza (6) badanego przedmiotu nachylona pod kątem ostrym w stosunku do stołu roboczego (1).

Tytuł Stanowisko do bezdotykowego wykrywania defektów struktury badanego przedmiotu, zwłaszcza wygarbowanych skór naturalnych
Numer zgłoszenia w UP P.417565
Numer prawa wyłącznego Pat.229341
Data zgłoszenia do UP 2016-06-12
Data udzielenia prawa 2018-02-22
Status w UP Prawo w mocy

ZDJĘCIA

Zobacz również

01.08.2023

Urządzenie do pomiaru ultraniskich rezystancji i impedancji

Zgłoszenie dotyczy urządzenia do pomiaru ultraniskich rezystancji i impedancji, mającego w szczególności zastosowanie do dokonywania metodą techniczną pomiarów przewodów wysokoprądowych np. kabli energetycznych, uzwojeń transformatorów, dławików, silników

01.08.2023

Sposób wytwarzania profili z kompozytów o podwyższonej twardości i zmniejszonej zawartości polistyrenu

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania profili z kompozytów o podwyższonej twardości i zmniejszonej zawartości polistyrenu przeznaczonych w szczególności do produkcji listew, teowników i ceowników stosowanych w budownictwie, przede wszystkim do wyko

prof. dr hab. inż. Robert Cierniak
prof. dr hab. inż. Robert Cierniak

Wydział

Wydział Inżynierii Mechanicznej i Informatyki

Dyscyplina naukowa

Informatyka techniczna i telekomunikacja

Twórcy

  1. Stanisław Chudzik
  2. Sebastian Dudzik

Kategorie

Patenty

Copyright © Politechnika Częstochowska. Wszystkie prawa zastrzeżone.